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電子束能量分布測(cè)試儀 diaBEAM （Electron Beam Profiler） 本設(shè)備主要用于電子束能量分布測(cè)試，進(jìn)而可以控制電子束焊接質(zhì)量。 由德國(guó)aixACCT Systems GmbH公司制造。 軟件： Windows 7操作系統(tǒng) 通過(guò)GPIB或以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程接入和腳本控制 通過(guò)ODBC接口的數(shù)據(jù)庫(kù)連接 測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)ASCII形式輸出 技術(shù)參數(shù)： 測(cè)試孔直徑：20μm 最大可測(cè)電子束能量：30kW 轟擊測(cè)試行程：160mm 電子束橫截面測(cè)試時(shí)間：2.5s 欣源科技SYNERCE獨(dú)家代理德國(guó)aixACCT公司的鐵電壓電系列產(chǎn)品及電子束能量密度分布測(cè)試儀diaBEAM（Electron Beam Profiler）。 如有任何需求和相關(guān)問(wèn)題，電子束焊接質(zhì)量測(cè)試,高精度儀器儀表質(zhì)量測(cè)試，電子束焊接質(zhì)量測(cè)試,進(jìn)口儀器儀表質(zhì)量測(cè)試，電子束焊接質(zhì)量測(cè)試,aixACCT儀器儀表能量密度分布測(cè)試，欣源科技（北京）有限公司,欣源科技（北京）,敬請(qǐng)電話或郵件垂詢。

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